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VM-DIC微分干涉偏光显微量测复合仪

VM-DIC微分干涉偏光显微量测复合仪
品牌: 3DFAMILY 型号: VM-偏光250/300/400
功能: 观察、分析、应用 精度:
应用领域: 模具、塑胶、电子、金属加工、其它
  详细描述

1、X/Y/Z三轴光学尺。
2、OVM-Lite
版光学影像量测软件。
3、线性
精度课达到:(2+L/200)μm。
4、CCD:
日本原装SENTECH CCD。
5、
镜头:NIKON三目微分干涉偏光镜头模块/NAVITAR偏光镜头模组。

具体型号

VM-偏光250

VM-偏光300

VM-偏光400

(X/Y/Z)量测行程(mm)

250*150*200  

300*200*200

400*300*200

全机尺寸(mm)

1000*650*1650

1000*650*1650

1000*650*1650

机台底座和立柱材料

高精度花岗石

CCD

3DFAMILY彩色CCD

X,Y轴量测精度

2+L/200μm

放大倍率

43万像素日本原装彩色CCD

光学尺解析度

1 μm

重复性

2 μm

操作方式

手动

机台承重

30KG

电源供给

110/220V

合适温度,湿度

温度:19°--24°,湿度:45%--75%

保修期

1

 

 备注:L是测量长度,单位为mm。

 
      

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