◎ 高灵敏度---自动切换4种滤光片
在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出最具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。
◎自动定性分析
A、自动过滤背景
X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰，
从而能确保对任何塑料样品进行快速准确的分析。
B、自动剥离重叠峰
当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由
此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。
C、自动补偿逃逸峰
逃逸峰：由于采用的是Si针半导体探测器，因此当X射线荧光在通过探测器的时候，如果某种元素
的含量较高(能量也会相应的较高)，其被Si吸收的概率也就越大。此时，光谱图中在该元素的能量
值减去Si能量值的地方会产生一个峰，此峰即为逃逸峰。
D、自动追踪谱图漂移
在电压不稳的情况下，可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。
◎ 定量分析
A、FP基础参数法
B、标准法
C、1点校正
主要技术指标：
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分析原理
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能量色散X射线荧光分析法
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分析元素
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Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）
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Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）
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检出下限
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Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
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样品形状
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最大460×380mm(高150mm)
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样品
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塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体
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样品室气氛
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大气
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X射线管
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靶材
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Rh
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管电压
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最大50KV
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管电流
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最大1mA
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X射线照射径
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1/3/5mm
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防护
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＜0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕）
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检测器
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硅SIPIN探测器
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光学图像观察
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倍率15倍
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软件
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定性分析：自动定性
（自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移）
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照射径：1/3/5mm
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定量分析：基础参数法/标准法/1点校正
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计算机
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CPU
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PentiumIV1.8GHz以上
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内存
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256MB以上
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硬盘
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20GB以上
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OS
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WindowXP
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监视器
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17寸LCD
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周围温度
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10～35。C（性能温度）/5～40。C（动作温度）
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周围湿度
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5～31。C时温度范围：最大相对湿度80%以下
31～40。C时温度范围：相对湿度50%以下
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电源
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AC110V/220V±10%、50/60HZ
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消耗电力
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1.3KVA以下（含计算机、LCD、打印机）
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设备重量
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约65kg(不含桌子、计算机）
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外形寸法
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600（W）×545（D）×435（H）mm
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